atomforto afm mikroskopo
Atomic Force Microscope (AFM), analiza instrumento kiu povas esti uzita por studi la surfacstrukturon de solidaj materialoj, inkluzive de izoliloj.Ĝi studas la surfacstrukturon kaj trajtojn de substanco detektante la ekstreme malfortan interatoman interagon inter la surfaco de la provaĵo por esti testita kaj mikro-forta sentema elemento.Estos paro de malforta forto ekstreme sentema mikro-kantilever fino fiksita, la alia fino de la malgranda pinto proksime al la specimeno, tiam ĝi interagos kun ĝi, la forto faros la mikro-kantilever deformado aŭ movado stato ŝanĝoj.Skanante la specimenon, la sensilo povas esti uzata por detekti ĉi tiujn ŝanĝojn, ni povas ricevi la distribuadon de forto-informoj, por akiri la surfacan morfologion de nano-rezoluciaj informoj kaj surfacaj malglataj informoj.
★ Integrita skanada sondilo kaj specimena cervo plibonigis la kontraŭ-interferan kapablon.
★ Preciza lasero kaj sondilo poziciiga aparato faras ŝanĝi la sondilon kaj ĝustigi la punkton simpla kaj oportuna.
★ Uzante la specimenan sondilon alproksimiĝante, la nadlo povus perpendikulara al la specimena skanado.
★ Aŭtomata pulso motoro stirado kontrolo specimeno enketo vertikala proksimiĝanta, por atingi precizan pozicion de la skanado areo.
★ Specimena skana areo de intereso povus libere movita uzante la dezajnon de alta precizeca specimena movebla aparato.
★ CCD-observa sistemo kun optika poziciigado atingas realtempan observadon kaj poziciigon de la sonda specimena skana areo.
★ La dezajno de elektronika kontrolsistemo de moduligo faciligis prizorgadon kaj kontinuan plibonigon de cirkvito.
★ La integriĝo de multobla skanada reĝimo kontrolo cirkvito, kunlabori kun programaro sistemo.
★ Printempa suspendo, kiu simpla kaj praktika plifortigis kontraŭ-enmiksiĝon.
| Laborreĝimo | FM-Frapado, laŭvola kontakto, frotado, fazo, magneta aŭ elektrostatika |
| Grandeco | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Skananta gamo | 20 mmmin XYdirekto,2 mm en Z-direkto. |
| Skanado-rezolucio | 0.2nm en XY-direkto,0.05nm en Z-direkto |
| Movada gamo de specimeno | ± 6,5 mm |
| Pulsolarĝo de la motoro alproksimiĝas | 10±2ms |
| Bilda specimena punkto | 256×256,512×512 |
| Optika pligrandigo | 4X |
| Optika rezolucio | 2,5 mm |
| Skanado indico | 0.6Hz~4.34Hz |
| Skanado angulo | 0°~360° |
| Kontrolo de skanado | 18-bita D/A en XY-direkto,16-bita D/A en Z-direkto |
| Specimeno de datumoj | 14-bitA/D,duobla 16-bita A/D plurkanala sinkrona specimenigo |
| Reago | DSP-cifereca retrosciigo |
| Reago-specimena indico | 64.0KHz |
| Komputila interfaco | USB2.0 |
| Operacia medio | Vindozo 98/2000/XP/7/8 |