Marko: NANBEI
Modelo: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), analiza instrumento kiu povas esti uzita por studi la surfacstrukturon de solidaj materialoj, inkluzive de izoliloj.Ĝi studas la surfacstrukturon kaj trajtojn de substanco detektante la ekstreme malfortan interatoman interagon inter la surfaco de la provaĵo por esti testita kaj mikro-forta sentema elemento.